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半導體低溫沖擊儀

半導體低溫沖擊儀用于測試各種聚氯乙烯護套電纜、電線(xiàn)、軟線(xiàn)和無(wú)護套平行軟線(xiàn)、扁平軟線(xiàn)、通信電纜的聚氯乙烯絕緣試樣在低溫狀態(tài)下的抗沖擊性能。